Komplettlösungen zur Charakterisierung von Hochleistungshalbleiterkomponenten

Die Entwicklung und Verwendung von MOSFETS, IGBTs, Dioden und anderen Hochleistungskomponenten erfordert eine umfassende Charakterisierung auf Komponentenebene, wie z. B. Durchbruchspannungs-, Durchlassstrom- und Kapazitätsmessungen. Die Line der leistungsstarken PCT-Konfigurationen von Keithley unterstützt das gesamte Spektrum an Komponententypen und Testparametern. Die parametrischen Kurvenverfolgungskonfigurationen von Keithley beinhalten alles, was der Charakterisierungsingenieur für die schnelle Entwicklung eines kompletten Testsystems benötigt.