Des résultats de caractérisation jusqu’à deux fois plus rapides pour vos grandes innovations

Une solution totalement intégrée pour caractériser les matériaux, les processus et les composants à semiconducteurs.

Accélérez la recherche, les études de fiabilité et l’analyse de défauts des matériaux et composants semiconducteurs, et de leurs processus de développement grâce à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Analyseur paramétrique de très hautes performances, il permet des mesures synchronisées courant-tension (I-V), capacité-tension (C-V) et les mesures I-V en impulsions ultrarapides.