Events

Dienstag, 22. Oktober 2019 
Ort: Golden View, Zürcherstrasse 59, 8800 Thalwil
Kosten: keine

 Anmeldeschluss: 15.10.2019

Sprache: Deutsch, Slides: Englisch
Anreise: kostenlose Parkmöglichkeiten rund um das Silvergate Gebäude,
Bushaltestelle Thalwil Böni 200m

Agenda (Details siehe unten)

09:00 - 09:30 - Anreise, Willkommenskaffee
09:30 - 10:30 - Teil 1: Konformitätstests von seriellen Bussen wie USB 2.0
10:30 - 11:00 - Pause
11:00 - 11:45 - Teil 2: Messungen an neuen Halbleitermaterialien
11:45 - 13:00 - Mittagessen
13:00 - 13:45 - Teil 3: Korrelationen von Zeit- und Frequenzbereich 
13:45 - 14:30 - Teil 4: DC Stromversorgung als Fehlerquelle  
14:30 - 15:00 - Pause
15:00 - 15:45 - Teil 5: Programmierung von Messgeräten mit Python  
15:45 - 16:00 - Zeit für Fragen und Diskussionen
16:00                Ende und Abreise

Teil 1: Konformitätstests von serieller Hochgeschwindigkeitskommunikation am Beispiel von USB 2.0

Die Standards für digitale Schnittstellen der nächsten Generation (serielle Schnittstellen, Speicher- und Anzeigeschnittstellen usw.) verschieben die Grenzen für heutige Tools zur Konformitätsprüfung und Fehlersuche immer weiter. Hieraus entstehen mehrere Probleme beim Entwurf schneller Sende- und Empfangsschaltungen, u. a.

• eingeschränkter Zugang zu Signalen aufgrund der kleineren Bauelementeabmessungen
• Validierung neuer Funktionen zur Signalcodierung und -entzerrung bei Signalisierungsschnittstellen
• So viele Validierungstests bei so wenig verfügbarer Zeit!

Das Seminar zeigt den Aufbau und die Durchführung eines Konformitätstests am Beispiel von USB 2.0. Weiter werden Möglichkeiten aufgezeigt, wie die Fehlerbehebung mit Tools wie Protokolldekodierung und visuelle Trigger funktionieren, wenn Konformitätsmessungen fehlschlagen.

Teil 2: Korrelationen zwischen Zeitbereich und Frequenzbereich im Oszilloskop

Ein Oszilloskop stellt ein Signal über der Zeit dar. Der Spektrumanalyzer visualisiert das Signal im Frequenzbereich. Moderne Oszilloskope vereinen beide Messgeräte in einem und bieten so Möglichkeiten, die weit über die Standard FFT Funktion hinaus gehen. 

In diesem Seminar sehen Sie, wie einfach und schnell die Zusammenführung zwischen Zeit- und Frequenzbereich funktioniert und was daraus für neue Analysemöglichkeiten entstehen. 

Teil 3: Messungen an neuen Halbleitermaterialien
wie z. B. SiC und GaN

Neue Halbleitermaterialien, wie z. B. SiC und GaN, bringen häufig ganz spezielle Probleme bei der Entwicklung mit sich:

• Die DC-Charakterisierung von Halbleitern erfordert umfangreiche IV-, CV- und schnelle gepulste Messungen.
• Das Testen von Hochleistungs-Halbleiterkomponenten verstärkt den Bedarf an höheren Spannungen und Leistungspegeln, kürzeren Schaltzeiten, höheren Spitzenströmen und kleineren Leckströmen.

In diesem Seminar lernen Sie die Hauptvorteile dieser Technologien kennen. Wir stellen einen Vergleich zu traditionellen Halbleitern her und zeigen die Unterschiede in der Messtechnik.

Teil 4: DC Stromversorgung als Fehlerquelle

DC Stromversorgungen verursachen oft Fehler auf digitalen Schaltungen. Sie führen zu geschlossenen Augendiagrammen, verursachen Signalrauschen auf Datenbussen und sind Quellen von Jitter. 

Die Untersuchung der Stromversorgung bringt wichtige Informationen hervor und hilft Ihnen bei der Fehlersuche.

In diesem Teil lernen Sie was benötigt wird, um eine Versorgungsspannung qualitativ zu beurteilen und als Fehlerquelle auszuschliessen.

Teil 5: Programmierung von Messgeräten am Beispiel von Python

Die Automatisierung und die Einbindung in Systeme gehört bei Messgeräten schon lange zur Standard Anwendung. Die Programmierung der Geräte ist in den Handbüchern umfangreich dokumentiert. Trotzdem sind die Hürden mit der Programmierung zu beginnen nicht immer leicht. Benutze ich eine VISA Schnittstelle oder doch lieber ein Socket Server? Programmiere ich mit den SCPI Kommandos oder besser mit TSP? Welche Programmiersprache soll verwendet werden? 

Dieses Seminar liefert Antworten anhand einfacher Programmierbeispielen.

Wir freuen uns auf Ihre Teilnahme.

ANMELDUNG

Termin in Kalender eintragen

Ein Oszilloskop ist das zentrale Werkzeug eines jeden Elektronik Ingenieurs und muss die messtechnischen Anforderungen der Markttrends stehts erfüllen. Das Einsatzgebiet eines Oszilloskops wird immer breiter und der Funktionsumfang immer vielfältiger. 
Da verschiedenen Anwender die Oszilloskope für komplett verschiedene Messaufgaben einsetzen, wird eine einfache und intuitive Bedienung der Geräte immer wichtiger. 
Der Workshop zeigt neue Triggermethoden, neue Messfunktionen, vereinfachte Jitteranalyse und das simple erstellen eines Augendiagrammes mit einer komplett neuen intuitiven Benutzeroberfläche.

Measurement systems for semiconductors and materials

You will learn the basics, tips and tricks for measuring DC (4 Quadrant) and AC voltage, understand sensitivityand how to perform high accurate measurements.

Speaker: Manfred Brenner, ​Application Engineer, Keithley

How to overcome challenges of in situ electrical nanoprobing in SEM

Nanoprobing in electron microscopes is a proven and increasingly used method to electrically characterize materials or precisely localize the root cause of defects in semiconductor devices. 
This presentation will share recent technology advances, practical results and best practices, providing tips and tricks to overcome challenges of in situ nanoprobing.

Speaker: Mr. Guillaume Boetsch,
COO and founder of Imina Technologies SA

EMC Pre-Compliance Testing - new tools and approaches

Did you know that most projects fail EMI/EMC testing the first time? Avoid delays and save money by detecting compliance issues early. Performing pre-compliance testing improves the probability of a successful first pass of full EMI compliance testing.
In this seminar, we'll show you how to perform pre-compliance testing with cost-effective tools.

Speaker: Markus Petry, Applications Engineer, Tektronix

Vector Network Analyzer - Solutions for the characterization of RF components

IoT development requires VNAs to adapt Bluetooth, WLAN, RFID and other wireless solutions to the antenna. 
The lecture deals with the basics of vector network analysis and demonstrates current measurement possibilities.

Speaker: Markus Petry, Applications Engineer, Tektronix​

Registration >>